Industria · Industria de semiconductores
Computer vision industrial: detección automática de defectos microscópicos
El problema inicial
Defectos microscópicos, inspecciones manuales poco escalables, información técnica fragmentada y respuestas lentas ante consultas especializadas en entornos de alta precisión.
El proceso anterior
La inspección de calidad dependía de revisión manual y el conocimiento técnico estaba disperso en manuales, PDFs y presentaciones que solo dominaban algunos expertos.
La solución implementada
Computer vision para clasificación de anomalías con modelos avanzados de análisis visual y un pipeline de detección, más una plataforma RAG en Google Cloud para consultar documentación técnica, PDFs, PPTX y manuales en lenguaje natural.
Sistemas integrados
- Computer vision
- Google Cloud
- RAG
- Documentación técnica (PDF/PPTX)
El resultado
Mejora de la detección temprana, reducción de errores no identificados, trazabilidad en calidad y acceso rápido al conocimiento sin depender de expertos puntuales.
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